Metrology Symposium: Traceability in Mass Metrology
Los días 6 y 7 de marzo de 2019, tuvo lugar un Simposio internacional de Metrología en la sede de RADWAG, Traceability in Mass Metrology. Second Edition: Future and New Solutions". Los anfitriones de este evento celebrado bajo los auspicios de la Oficina Central de Medidas, Varsovia, fueron ČMI Checa y RADWAG Balanzas Electrónicas.
Tuvimos el placer de recibir a cien representantes de institutos metrológicos nacionales de 31 países, entre ellos Alemania, Francia, República Checa, Gran Bretaña, Turquía, Arabia Saudita, Costa Rica, Guatemala, Estados Unidos, Rusia, México, India, Israel.
El objetivo del simposio era educar e intercambiar información sobre las tecnologías de calibración masiva de hoy, y asesorar sobre la planificación de futuros laboratorios masivos modernos. El primer día, los participantes tomaron parte en conferencias y un panel de discusión. RADWAG expertos y expertos mundiales de ČMI CZECH, GUM Polonia, BIPM, PTB ALEMANIA, METAS Suiza, LNE Francia, UME Turquía, NPL Reino Unido, NIST USA, NPL India, HAFNER Alemania dieron sus presentaciones. El segundo día fue el día de los talleres.
El tema principal del simposio fue la redefinición del kilogramo y la influencia del nuevo enfoque de la unidad de masa fundamental tanto en la ciencia como en la tecnología. Durante el simposio, se analizaron temas relacionados con las últimas soluciones tecnológicas, también se presentaron métodos para la comparación de estándares de masa, comparación de vacío, pruebas de magnetismo de normas de masa, pruebas de densidad y volumen de estándares masivos, calibración de pipetas y monitoreo de condiciones ambientales.
Los invitados tuvieron la oportunidad de ver y familiarizarse con el equipo más avanzado destinado a la comparación de estándares de masa, es decir, comparadores de masa automáticos y robóticos, y comparadores automáticos.
Nos gustaría agradecer a todos nuestros invitados por su participación, estimulando conversaciones en profundidad, participación activa en el panel de discusión e interés en la parte práctica. Esperamos encontrarnos nuevamente en las próximas ediciones del Simposio de Metrología.